电接触研究现状

【期数】：1997年03期

【作者】：陈德桂

【摘要】： 第42届IEEE霍姆(Holm)电接触与第18届国际电接触联合学术会议于1996年9月16～22日在美国芝加哥市召开,来自20多个国家和地区的211名代表参加了会议。会议论文集收录了论文60篇,内容包括:开关电弧与电弧对触头的侵蚀;触头的微振磨损(Fretting)与腐蚀;电接触基础与数学模型;继电器与铝联结器;试验方法。开关电弧与电弧对触头的侵蚀方面的论文最多,占17篇。几位近年来在低压开关电器上最为活跃的专家,如德国Brannschweig大学的M.Lindmayer教授,英国Southampton大学的