微光学和光学图像处理向深度与广度发展

【期数】：2000年03期

【作者】：严瑛白

【摘要】： 由国际光学工程学会(SPIE)组织的光学科学、工程与仪器第44届年会和展览(SPIE’s44th Annual Meeting&Exhibition)于1999年7月18～23日在美国丹佛(Dever)科罗拉多会议中心举行。SPIE学会是拥有最多国际会员的学术组织,涵盖的学科内容包含光学学科与应用、激光、光电子学、纤维光学、电光学、成像学、天文仪器、生物医学光学、微光学和微细加工等方面。会上发表论文7000多篇,按遥感系统、X射线光学技术、光学工程、材料与元器件和信