刊名: 国际学术动态
主办单位: 华中科技大学
出版周期: 双月
出版地:湖北省武汉市
语种: 中文
开本: 大16开
创刊时间: 1983
【期数】:2000年01期
【作者】:彭澄廉
【摘要】: 第5届IEEE国际联机测试会议于1999年7月5~7日在希腊的罗德岛召开,与会代表80余人。会上分12组报告了44篇论文:①FPGA联机测试(3),②系统级联机测试(7),③联机测试和容错方法(3),④用于毫微米技术的联机测试(3),⑤内置自测试与低功耗(4),⑥内置自测试与边界扫描(3),⑦射线问题(4),⑧延时故障的联机测试和内置自测试(3),⑨