XAFS技术是一种新的重要实验手段

【期数】：1999年03期

【作者】：韦世强;马礼敦;李晨曦;陶冶

【摘要】： 1998年8月10日至14日,由Illinois Institute of Technology主办的第10届国际X射线吸收精细结构会议(XAFSX)在美国芝加哥市隆重举行。来自世界各地的专家学者近400人与会。会上交流了XAFS研究的最新成果和进展,明确了XAFS领域今后的发展趋势和方向。会中交流论文463篇,其中大会报告4篇,口头报告94篇,墙报365篇。